- 1JIS C 5916-2006 General rules of dispers
- 2JIS C 5914-2006 General rules of optical
- 3JIS C 5912-2006 General rules of wavelen
- 4JIS C 5900-2006 General rules of passive
- 5JIS C 5877-1-2009 偏光子通則
- 6JIS C 5870-2009 干扰滤光片的通用规则
- 7JIS C 5750-3-5-2006 可信性管理.第3-5部分
- 8JIS C 5750-3-1-2006 Dependability manage
- 9JIS C 5630-3-2009 Semiconductor devices-
- 10JIS C 5630-2-2009 Semiconductor devices-
JIS C 5630-1-2008 Semiconductor devicesMicro-electromechanical devices Part 1 Terms and definitions.
- 文件大小:1.1MB
- 浏览次数:
- 发布时间:2017-07-03
文件介绍:
本资料包含pdf文件1个,下载需要5积分
JIS C 5630-1-2008 Semiconductor devicesMicro-electromechanical devices Part 1 Terms and definitions. JIS C5630-1-2008 Semiconductor devicesMicro-electromechanical devices Part 1 Terms and definitions.pdf(1.1MB)
文件列表
正在加载...请等待或刷新页面...
发表评论
更多..相关推荐
更多..最近更新
- 1JB 1152-1981 锅炉和钢制压力容器对接焊缝超声波探伤
- 2课程设计 木塑衣夹的注塑模具设计
- 3SN/T 3485-2013 牛焦虫病检疫技术规范
- 4济南市经干院办公楼施工组织
- 5地下基础设施渗漏防治与非开挖修复技术的发展-公开版本
- 6厨房橱柜装修设计CAD图纸
- 7礼泉至阎良N-11标施组
- 8公路工程国内招标文件范本(下册)
- 9高速公路分部开工报告
- 10安徽省马鞍山某锅炉厂房暖通设计施工图纸
- 11CWNS0.35-85-60-Q燃气锅炉本体图
- 12柯达DryView8900激光相机基本工作原理及常见故障分析
- 13CJ/T 189-2004 钢丝网骨架塑料(聚乙烯)复合管
- 14233.预拌混凝土裂缝的成因与防治(摘录自《山西建筑》06年16期第96-97页)
- 152008桥梁上部通用图计算书汇总